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漳州失效分析
集成电路在研制、生产和使用过程中失效不可避免，随着人们对产品质量和可靠性要求的不断提高，失效分析工作也显得越来越重要，通过芯片失效分析，可以帮助集成电路设计人员找到设计上的缺陷、工艺参数的不匹配或设计...
2024-03-21 15:23:1013366 -
漳州特殊样品加工
FIB也可以对有特殊要求的样品进行加工：...
2024-03-21 15:22:504274 -
漳州FIB截面分析
FIB可在IC芯片特定位置作截面断层,以便观测材料的截面结构与材质,定点分析芯片结构缺陷，这样可以帮助IC设计人员对IC设计性能进行深入分析。如： &nb...
2024-03-21 15:22:313967 -
漳州IC芯片修改
用FIB对芯片电路进行物理修改可使芯片设计者对芯片问题处作针对性的测试,以便更快更准确的验证设计方案。若芯片部份区域有问题,可通过FIB对此区域隔离或改正此区域功能,以便找到问题的症结。FIB还能在最...
2024-03-21 15:21:373944 -
漳州IC芯片开封
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间，增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析，二次电子像，以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
2024-03-21 15:20:374090 -
漳州 聚焦离子束
nbsp; 聚焦离子束(FocusedIonbeam,FIB)的系统是利用电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的显微切割仪器，目前商用系统的离子束为液相金属离子源(LiquidMet...
2024-03-21 15:19:103927